Término solicitado: CAHN, R.W.^RED./(22)
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Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Characterization of materials |
Autor: | Cahn, R.W.. ed.; Haasen, P.. ed.; Kramer, E.J.. ed.; Lifshin, Eric. ed. |
Título Ser./Col.: | Materials science and technology; a comprehensive treatment, vol.2 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Weinheim, DE; New York, US; Basel, CH; Cambridge. GB. VCH. 1992. |
Pág./Vol.: | 2v. |
Descriptores: | Materiales; Métodos de análisis; Electrones; Difracción; Transmisión; Microscopía electrónica; Microscopía electrónica de barrido; Difracción de rayos X; Espectroscopía de absorción atómica; Espectroscopía; Análisis térmico; Fluorescencia; Rayos X; Polímeros; Estructura molecular; Superficies; Interfases; Análisis cuantitativo; Microestructuras; Imágenes; Energía; Iones; Neutrones; Películas delgadas; Sustancias orgánicas |
Ubicación: | Electrónica/E-21, 2; Electrónica/E-22 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Physical metallurgy |
Autor: | Cahn, R.W. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Wiley. 1965. |
Pág./Vol.: | 110p. |
Descriptores: | Metalurgia; Propiedades físicas; Estructura cristalina; Electrones; Soluciones sólidas; Termodinámica; Diagramas de fase; Solidificación; Transformaciones de fase; Metalografía; Dislocación; Microestructuras; Propiedades mecánicas; Fractura de materiales |
Ubicación: | INTI/CID 577/Maroni |
Disponibilidad: | Préstamo |
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